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益和MICROTEST 7620/7621 耐壓測(cè)試儀 7620 耐壓測(cè)試儀：7620 為8 Channels 耐壓測(cè)試儀，可應(yīng)用在變壓器、馬達(dá)、電容、電感、線(xiàn)材、濾波器等範(fàn)圍。 7621 耐壓測(cè)試儀：7621 為8 Channels 耐壓測(cè)試儀，可應(yīng)用在變壓器、馬達(dá)、電容、電感、線(xiàn)材、濾波器等範(fàn)圍。
益和MICROTEST 7630 耐壓測(cè)試儀 7630為2通道耐壓測(cè)試儀，AC 高壓5000V，DC 高壓6000V，絕緣阻抗1.2G?。內(nèi)部記憶體可存30組測(cè)試檔案，每組檔案支援16組測(cè)試步驟。USB Host 可儲(chǔ)存檔案及更新韌體?？蛇B接USB Device/RS-232傳送指令至電腦。另外待測(cè)物測(cè)試不良時(shí)，可加裝不良的通道警示燈，透過(guò)Remote Port輸出信號(hào)判斷。
益和MICROTEST 7631 精密耐壓測(cè)試儀 7631為8通道耐壓測(cè)試儀，AC 高壓5000V，DC 高壓6000V，絕緣阻抗1.2G?。內(nèi)部記憶體可存30組測(cè)試檔案，每組檔案支援16組測(cè)試步驟，在量測(cè)技術(shù)上使用糕端32Bit True-RMS DSP（數(shù)位信號(hào)處理器），有別於一般量測(cè)所使用的ADC（類(lèi)比數(shù)位轉(zhuǎn)換積分器）。
中國(guó)臺(tái)灣益和 6375+6220 直流偏流源測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介： MICROTEST DC Bias 6210、6220、6240 獨(dú)家擁有內(nèi)部溫升掃描功能，透過(guò)掃描功能得到線(xiàn)圈內(nèi)溫度升高的參數(shù)，不再受限於空間過(guò)小導(dǎo)致量測(cè)數(shù)值非常困難。溫升掃描功能可以讓工程師瞭解線(xiàn)圈上加了電流以後，溫度爬升的狀況，就能立即知道元件是否會(huì)因溫度過(guò)高而燒毀。
中國(guó)臺(tái)灣益和 62XX+6632 直流偏流源測(cè)試系統(tǒng) MICROTEST DC Bias 6210、6220、6240 獨(dú)家擁有內(nèi)部溫升掃描功能，透過(guò)掃描功能得到線(xiàn)圈內(nèi)溫度升高的參數(shù)，不再受限於空間過(guò)小導(dǎo)致量測(cè)數(shù)值非常困難。溫升掃描功能可以讓工程師瞭解線(xiàn)圈上加了電流以後，溫度爬升的狀況，就能立即知道元件是否會(huì)因溫度過(guò)高而燒毀。
